X熒光光譜儀(XRF)是由激發(fā)源(X射線管)和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成。X熒光光譜儀是一種重要的分析儀器，按色散方式的不同，X射線熒光光譜儀可以分為波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀（WDXRF）和能量色散型X射線熒光光譜儀（EDXRF）。按照應(yīng)用方式，X射線熒光光譜儀又可分為手持式、臺(tái)式機(jī)等多種類(lèi)型。
那么X熒光光譜儀有什么不同于別的儀器的優(yōu)勢(shì)呢？
分析速度快：測(cè)定用時(shí)與測(cè)定精密度有關(guān)，但通常都很短，可以在2~5分鐘內(nèi)測(cè)完樣品中的全部待測(cè)元素。
非破壞性分析：在測(cè)定過(guò)程中不會(huì)引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會(huì)出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象，因此同一試樣可以反復(fù)多次測(cè)量，結(jié)果重現(xiàn)性好。
應(yīng)用廣泛：X射線熒光光譜儀能夠分析從金屬、礦石、土壤、礦渣、陶瓷、玻璃、涂料、塑料等各種樣品中的所有元素，因此在多個(gè)領(lǐng)域都有廣泛的應(yīng)用，如工業(yè)生產(chǎn)中的質(zhì)量控制、地質(zhì)礦產(chǎn)勘探、環(huán)境監(jiān)測(cè)、文物保護(hù)以及科學(xué)研究等。
總之，X熒光光譜儀因其多種分類(lèi)和顯著優(yōu)勢(shì)，在多個(gè)領(lǐng)域都發(fā)揮著不可替代的作用。如需更多關(guān)于X熒光光譜儀的信息，建議查閱儀器分析專(zhuān)業(yè)書(shū)籍或咨詢(xún)?cè)擃I(lǐng)域?qū)I(yè)人士。
